研究員紹介
高田 啓二(たかた けいじ)
名前 | 高田 啓二(たかた けいじ) |
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所属 | システム理工学部(機械工学科) |
研究室 | 計測システム研究室 |
研究の経緯 | 走査プローブ顕微鏡(SPM)分野において、新計測法の考案・実証と応用計測を行ってきた。計測対象は、半導体・ 強誘電体・磁性・リチウムイオン電池など。主たる新規計測法は、走査型トンネル顕微鏡(STM)に超音波センサー を取り付けたトンネル音響顕微鏡、試料の微小なひずみをイメージングするひずみイメージング法である。 |
研究テーマ | ① 磁場誘起歪イメージングによる磁性計測 ② 圧電/電歪イメージングによる強誘電性計測 ③ 超音波STM |
キーワード | 走査プローブ顕微鏡、リチウムイオン電池、ナノテクノロジー、超音波、磁性、強誘電性、半導体、固体電解質 |
応用技術分野 | ストレージ、半導体メモリ素子、リチウムイオン電池 |
学術情報システム | 学術情報システムを見る |
Name | TAKATA Keiji |
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Faculty, Department |
Department of Mechanical Engineering, Faculty of Engineering Science |
Research Topics | ① Development and application of novel measurement techniques using scanning probe microscopy ② Scanning tunneling microscope with an ultrasonic detector to observe nonconductive material ③ Novel method, strain imaging, for imaging ferroelectric and ferromagnetic properties with high resolution |
Key Words | Scanning probe microscopy, Li-ion batteries, Strain imaging, Piezoelectric properties, Lead zirconate titanate, Magnetic properties, Magnetostriction, Hard disk drive head, Li-ion batteries |
Applications | Hard disk drives, High density memory devices, Batteries |