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研究員紹介

高田 啓二(たかた けいじ)

名前 高田 啓二(たかた けいじ)
所属 システム理工学部(機械工学科)
研究室 計測システム研究室
研究の経緯 走査プローブ顕微鏡(SPM)分野において、新計測法の考案・実証と応用計測を行ってきた。計測対象は、半導体・ 強誘電体・磁性・リチウムイオン電池など。主たる新規計測法は、走査型トンネル顕微鏡(STM)に超音波センサー を取り付けたトンネル音響顕微鏡、試料の微小なひずみをイメージングするひずみイメージング法である。
研究テーマ ① 磁場誘起歪イメージングによる磁性計測
② 圧電/電歪イメージングによる強誘電性計測
③ 超音波STM
キーワード 走査プローブ顕微鏡、リチウムイオン電池、ナノテクノロジー、超音波、磁性、強誘電性、半導体、固体電解質
応用技術分野 ストレージ、半導体メモリ素子、リチウムイオン電池
学術情報システム 学術情報システムを見る
Name TAKATA Keiji
Faculty, Department Department of Mechanical Engineering,
Faculty of Engineering Science
Research Topics ① Development and application of novel measurement techniques using
  scanning probe microscopy
② Scanning tunneling microscope with an ultrasonic detector to observe
  nonconductive material
③ Novel method, strain imaging, for imaging ferroelectric and ferromagnetic
  properties with high resolution
Key Words Scanning probe microscopy, Li-ion batteries, Strain imaging, Piezoelectric properties, Lead zirconate titanate, Magnetic properties, Magnetostriction, Hard disk drive head, Li-ion batteries
Applications Hard disk drives, High density memory devices, Batteries
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